服务概述

面向 ADC/DAC、模拟信号链、存储、处理器、接口、电源和传感器等器件开展应用验证与批次复测。

服务内容

• 根据器件功能选择测试板、激励和测量方案
• 覆盖功能、性能裕量、批次复测和原始数据记录
• 关联器件型号、样品编号、测试条件与异常复测结果

项目适用范围

适用于科研诊断、芯片研发、电子产品验证、模块化测控和系统集成项目。